泰尔终端实验室成功举办“时间平均技术电磁辐射测试论坛”

2021年7月30日，中国信息通信研究院泰尔终端实验室（CTTL-T）在深圳成功举办“时间平均技术电磁辐射测试论坛”。来自国内外运营商、终端制造企业、芯片企业、仪表厂商等不同企业的100多名代表参加了研讨会。

泰尔终端实验室主任魏然 致辞

泰尔终端实验室主任魏然代表主办方作开场致辞。他首先对各位专家以及来宾的到场表达了诚挚的欢迎。并对大家长期以来对泰尔终端实验室的建设和发展给予的关心和帮助表达了衷心的感谢！ 

魏然表示，电磁辐射事关公众健康，一直以来都是全世界普遍开展的强制性认证项目之一。为更好的满足电磁辐射相关标准的要求，打造低辐射健康安全的使用环境，近年来，以Smart Transmit、滑窗法为代表的时间平均技术逐渐在业界流行。时间平均技术通过实时控制和管理设备的发射功率来保证设备的电磁辐射持续满足法规要求。全新的技术给标准制定、认证测试活动带来了全新的挑战。泰尔终端实验室作为国内电磁辐射检测领域的标准制定者、CCSA TC9 WG3组长单位，希望通过举办本次论坛，汇聚行业声音，开展技术研讨，澄清业界疑难，为推动技术发展、标准进步和认证测试工作的顺利实施做好准备。

研讨会演讲嘉宾

研讨会上，来自高通, IT IS Foundation，华为，Keysight , 珠海博杰以及泰尔终端实验室的技术专家就时间平均技术电磁辐射测试的国际认证进展，标准现状及各地相关法规要求，测试方法及技术解决方案、测试仪表开发等多方面进行了深度解读，并与与会嘉宾进行了热烈的讨论。

签约仪式

会议期间，中国信息通信研究院泰尔终端实验室与高通公司签署了技术合作协议。双方为共同推进时间平均电磁辐射技术在国内的应用建立战略合作关系，携手为技术的发展和进步贡献力量。

研讨会现场

参会代表均表示，此次会议收获颇丰，充分了解了时间平均技术的电磁辐射测试技术、认证、标准等不同方面最新最全面的信息，解决了很多工作中的实际问题。与会专家及代表表示，愿以此次论坛为契机，为推动行业发展和技术进步不懈努力，进一步加强沟通与合作！ 

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